OLED器件光谱仪扫描式IVL测量
OLED器件光谱仪扫描式IVL测量
高低温OLED器件IVL测量系统该系统可配置常温测试工位+高低温测试工位(温度范围-40℃~100℃)+视角测试工位(视角测试范围±90°)。测量不同电流时的发光光谱、亮度、色温、显色指数、色度CIE-x/y、u’, v’等; 不同角度下的...
多片OLED器件IVL测量系统在仅需大批量IVL测试而无需视角测试的情况下,工位可以灵活配置。如下述机型:①多工位常温IVL测试②多工位常温IVL测试+工位视角测试③多工位常温IVL测试+1个工位高低温控IVL测试等多种组合配置。
多片带视角OLED器件IVL测量系统主要应用于OLED材料和OLED屏体生产工厂,满足客户大批量的OLED器件的IVL特性和亮度视角特性测试需求。 系统特点1.大批量器件的测试系统配有多通道电路选择器,可支持多达96片OLED器件...
简易单工位OLED器件IVL及视角测量系统对于OLED科研类机构用户,仅考虑测试功能和精度,不考虑测试效率的情况下,可选择单工位的IVL及视角测试系统。与多工位机台相比,仅保留一个带视角的工位和治具,机台尺寸更紧凑。同时可取消选配工业视觉对...
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