成品手机寿命测试系统
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成品手机寿命测试系统
当前OLED项目寿命/长期残影测试主要依赖手动测试,逐天采集亮度与色坐标。主要存在三方面局限性:
1. 一方面工作量大,非自动化效率低下。
2. 由于依赖人工定位,导致每次测试点位有偏差,测试精度较低。
3. 数据采集点位少,仅1个点/天,无法刻画精细的老化曲线。
购置AMOLED寿命/长期残影测试设备,实现自动化、高定位精度以及全天候实时数据采集,以满足当前测试需求。
系统组成 |
1. 光谱仪
2. 整机寿命测试系统
3. Lifetime 测试软件
4. 视觉定位CCD系统
5. 激光位移传感器
6. 工业空调
7. 工业计算机
系统特点 |
1. 测试项目:亮度、亮度衰减比、色度值(x, y, u')、色温值(Tc)、发光光谱、衰减时间、已测时间、测试温度、预估寿命等;
2. 可以显示每个工位在不同画面(白/红/绿/蓝)下亮度随时间衰减的曲线,支持随时输出测试数据到Excel报表中;
3. 可以将测试数据上传到本地服务器中随时进行查看(需要提供对应接口进行通讯);
4. 测试中断和恢复:测试过程实时保存数据,测试暂停或软件意外退出,重启软件后仍可恢复原来的测量:
5. 测试时间间隔设定:可分成3个以上阶段设置,每个阶段可设定独立的测量时间间隔;
6. 测试结束条件设定:① 以测试时间进行设定; ② 以亮度衰减百分比进行设定
7. 测试过程中可以开始其他工位的测试,对当前正在测试的项目没有影响;
8. 软件实时备份测试数据,备份周期可以设定。
详情请致电联系。
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