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离线式晶圆微显光学测试系统
该系统在晶圆未切割前，通过探针压接直接点亮微型显示器，测试亮度、色度、光谱及像素缺陷。
参数：

 详情请致电0512-62564212咨询。

离线式晶圆微显光学测试系统
微型显示器未从晶圆上切割之前，在晶圆上直接对每个微型显示器进行探针压接点亮，测试其亮度、色度、光谱和像素缺陷。

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