设备采用单独测试通道，使用光谱仪在不同温度环境（-40 ℃~100 ℃）下进行OLED  器件寿命、IVL测试系统。

针对器件寿命测量过程中穿插IV/L测量，用户可在寿命测量前、测量中(设定间隔时间)、测量结束后，3个阶段加入器件的IV/L测量。

系统组成 

1、全封闭暗室机台(含三轴运动控制系统)

2、分光辐射亮度计

3、视觉定位系统

4、工业计算机

5、OLED器件Lifetime测量软件

量测项目：常温&高低温（-40 ℃~100 ℃）范围内的亮度、色度(x/y)、色温、寿命、效率、IVL，高低温冲击测试。

系统特点 
驱动电源描述：

1、总共100个工位，每个工位配备两种电源满足两款不同产品的测试。

2、8路独立电源供应器FS-P8CH：电压输出0-20V，电流输出0~18mA。

3、8路独立电源供应器FS-P8CH-BIG：电压输出0-20V， 电流输出0~200mA。

4、两种电源在100个工位中可以不指定工位号进行混合测试。

5、两种电源提供独立的接口，便于下游电流板的设计。

OLED器件寿命测试软件 

采用前后端分体式，前端负责数据查看和测量条件建立，后端控制程序运行和日志记录。测量过程中，只要操作前端界面，可以达到完全不卡顿，软件能快速响应。