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OLED器件光谱仪扫描式IVL测量

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多片OLED器件IVL测试系统

在仅需大批量IVL测试而无需视角测试的情况下,可以选择多片不带视角的常温IVL测试工位,以及一个高低温控的测试工位。

  • 产品概述
  • 技术参数
  • 软件介绍


多片OLED器件IVL测量系统


在仅需大批量IVL测试而无需视角测试的情况下,工位可以灵活配置。如下述机型:
①多工位常温IVL测试
②多工位常温IVL测试+工位视角测试
③多工位常温IVL测试+1个工位高低温控IVL测试
等多种组合配置。

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关键词:光学检测,成像亮度色度计,光谱仪

多片OLED器件IVL测试系统详情请致电联系。


OLED器件IVL测试系统测量软件


I-V-L曲线测量的设定
1.可以设定起始电压、终止电压、电压步长,进行连续的测量
2.可以设定起始电流密度、终止电流密度、电流密度步长,进行连续测量
3.可以单独设定电流密度的亮度检测下限值,低于下限值时仅测电流电压,超过下限值后同时测电压电流亮度等数据
4.可以设定并保存设定的机种参数,下次测量时可以直接调用

I-V-L的测量数据
测量的结果包括:亮度L(cd/m2),电流效率(mA/cm2),发光效率,外量子效率,色坐标(x,y),色温,显色指数CRI,发光光谱
输出的测量项报表中的 图表包括: Cdens-V,Cdens-L,Cdens-LumE,Cdens-EQE,CIE1931,Spectra


软件界面


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