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OLED器件光谱仪扫描式IVL测量

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多片带视角OLED器件IVL测试系统

主要应用于OLED材料和OLED屏体生产工厂,满足客户大批量的OLED器件的IVL特性和亮度视角特性测试需求。

  • 产品概述
  • 技术参数
  • 软件介绍


多片带视角OLED器件IVL测量系统


主要应用于OLED材料和OLED屏体生产工厂,满足客户大批量的OLED器件的IVL特性和亮度视角特性测试需求。


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 系统特点


1.大批量器件的测试
系统配有多通道电路选择器,可支持多达96片OLED器件依次点亮测试(具体器件和发光点数量可定制)。测试前可预点亮所有发光点以确认器件是否均正常。

2.发光区域中心自动对位识别

工业视觉对位CCD自动识别发光点位置,不管是垂直测IVL还是旋转器件测视角亮度,始终保证测量点对准发光区域中心。


3.大视角范围测试
即使是3*3mm的发光点,在测视角时仍可以满足75度视角以上的测试要求。同时工业视觉对位相机可修正旋转时产生的测量点偏差,保证大视角下测量点依然对准器件发光中心。

4.温度套件扩展

每片治具可选温度控制箱(温控范围:-40-100℃)。

关键词:光学检测,成像亮度色度计,光谱仪

多片带视角OLED器件IVL测试系统详情请致电联系。

OLED器件IVL测试系统测量软件


I-V-L曲线测量的设定
1.可以设定起始电压、终止电压、电压步长,进行连续的测量
2.可以设定起始电流密度、终止电流密度、电流密度步长,进行连续测量
3.可以单独设定电流密度的亮度检测下限值,低于下限值时仅测电流电压,超过下限值后同时测电压电流亮度等数据
4.可以设定并保存设定的机种参数,下次测量时可以直接调用

I-V-L的测量数据
测量的结果包括:亮度L(cd/m2),电流效率(mA/cm2),发光效率,外量子效率,色坐标(x,y),色温,显色指数CRI,发光光谱
输出的测量项报表中的 图表包括: Cdens-V,Cdens-L,Cdens-LumE,Cdens-EQE,CIE1931,Spectra


软件界面


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