OLED器件硅光电式寿命测量
OLED器件硅光电式寿命测量
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本系统有多组独立的测量通道。
每组测量通道有独立的电压输出、电流输出、电压测量、电流测量、相对亮度测量。
每组测量通道可以独立设置测量参数,包括三段测量时长、测量时间间隔、停止测量判定条件等。
每组通道均可以独立开始测量和停止测量。
数据报表具备实时保存功能,不用担心数据丢失。
治具根据客户产品定制,治具采用探针接触方式,兼容顶发射和底发射产品。
通道的数量可选配,常用型号有32通道、64通道、96通道。
系统特点 |
1.极高的电源输出电源测量精度
系统采用了20bit分辨率的数据采集模块,对所有通道的输出的电压、电流和硅光电相对亮度进行测量,同时软件可根据系统测得的电压电流值来修正电源的输出,使电流的输出误差小于2uA。
2.硅光电的暗电流噪声的测量和扣除
即使在完全没有光照的情况下,由于环境温度(热量)的存在,硅光电仍会产生一个微弱的电流,称为暗电流噪声。暗电流噪声不是固定值,其随温度的增加而增大。弗士达公司的硅光电寿命测试机台,会在亮度测量开始前,先测量每个硅光电二极管的暗电流噪声并保存。每次硅光电电流的测量结果都会自动减去暗电流噪声,以硅光电电流净值来计算亮度。
3.极高的相对亮度测量准确性
得益于系统的高精度测量、硅光电暗噪声消除和以及滨松硅光电大于99.5%的线性度,整个系统的相对亮度测量准确性极高。硅光电一般选用型号为滨松S1223(2.4*2.8)(常温)/S2386-44K(3.6*3.6)(高温-40C~100℃),与CS2000A测量偏差<0.3%。
4.丰富了硅光电脉冲模式的测试需求
可以实现所有通道进行脉冲模式的测量,可以进行偏置电压,振幅,频率,占空比等参数设定(选配功能)
5.测试预处理功能更加完善
除了温度以外,软件还可以设定电压,电流,脉冲电压,脉冲电流等4种模式的预处理,且可以设置两段预处理周期,方便实现温度预处理后进行电压电流预处理,并且可单独保存预处理和寿命测试的数据;
6.配套增加了寿命数据查看小程序
可将当前数据和之前测试的数据添加到数据列表中,生成寿命曲线,方便客户对比前后测试结果。
详情请致电联系。
(1)测量模式:恒压、恒流、方波电压、方波电流
(2)软件所有通道可独立配置电流电压测试条件,互不影响。
-每个发光点可以独立设置电压或电流等参数,独立开始和停止测量。支持用户在测试过程中,增加或更换其中几片产品。
-测量时间控制:有3个时间段设计,每个通道每个时间段可以分别设置测量时间和间隔等参数。
-测量前预处理功能:有4段预处理,每段预处理都可以设置温度、电流、电压和时间等参数,正常测量前先以预处理条件进行老化,
然后再进入正常寿命测试程序。
(3)软件所有通道可实时检查详细测量数据及图表。
-数据包含样品信息、测量时间、已测时长、光感电流、亮度剩余比例、电压、电流、预估寿命温度、湿度、亮度等。
-多通道曲线图:支持选择多通道电压、电流、亮度衰减、寿命时长等数据,在一张图表里显示曲线,便于比较筛选。
-数据实时存储,异常恢复后可找回数据并继续测试(中断的时间不累积,能自动减除)。
-数据实时处理和记录, 自动生成数据图表和测试报告, Datalog及Eventlog实时记录。
咨询电话:
0512-62564212
0512-62564213
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