具有自发光的特性，其表面是一层有机化合物薄膜，而这些有机材料存在使用寿命，因其本身材料问题（功耗大），当 OLED 屏幕长期显示某个静止画面时，这些有机材料就会因为持续发光加快衰老速度，使亮度降低，并在屏幕留下残像。当OLED屏幕留下残影时，也加剧了OLED屏幕的寿命缩短，其发光效率以及纯度都会随着时间的增长而衰减。

OLED的基本结构

‍由此可见，残影现象显然会影响用户阅读屏幕的显示内容，引起可读性下降，造成用户体验差，在用户观看视频节目或登录电子游戏时存在明显干扰，除此之外，在一些特殊的场合可能会由于信息获取不及时、错误等状况，导致发生安全事故，例如使用在交通工具上的车载屏幕和机载屏幕。因此，残影现象定量描述的意义重大，对于研究、开发以及屏幕质量合规性评定都非常重要。‍‍‍

残影分为短期残影和长期残影，

短期残影现象往往在几十秒内就会消失，

然而长期残影现象可以持续

几个小时甚至几天，

在一些罕见的情况下，

残影现象还可以是永久存在的，

我们往往把这种现象称为烧屏（或灼屏）。

短期残影和长期残影的测量步骤基本一致，然而相较于长期残影，短期残影在技术上存在很多难点，其主要原因是短期残影消散速度快，测量软件需要迅速做出反应。

短期残影测量其难点主要为：

• 控制PG与软件同步切换画面；

• 测量仪器需拥有较高的亮度分辨率；

• 相机曝光时间足够短；

• 软件采集图像时间速度足够快；

• 每次的测量点位置信息判断足够准确。
  

 

残影测量具体步骤有哪些？

残影测量步骤通常分为三个部分：即预热、老化和测量。

预热：

‍点亮一副纯色画面，保持 T0 ‍时间。预热‍的目的是‍使待测屏‍幕处于亮度稳定的状态，因为屏幕在初始点亮时，亮度存在波动，此步骤可避免由于屏幕亮度波动造成测量结果存在误差。‍

老化：

‍点亮由黑白‍图像构成的棋‍盘‍格画‍面 T1 时间。点亮棋盘格‍画面的目的是‍‍使待测屏‍幕产生残影现象，屏幕在显示黑白棋盘格画面时最容易产生残影现象。‍

测量：

‍切换到测量灰阶图像，保持 T2 时间。在测量灰阶下每隔一定时间连续采集图像，并通过计算分析每幅图像下残影现象发生的程度。‍

针对短期残影测量项目的技术难点，弗士达DI-5000给出了答案。

• ‍在APK与PC端利用WiFi通信，控制同步切换图像，在0.1s内完成由棋盘格画面切换至待测画面，具有速度快、稳定性好等特点；

• 使用14bit的CCD，具有良好的亮度分辨率，例如：待测画面亮度为10cd/m²，相机可以分辨至0.0024cd/㎡的亮度差异；

• 通过调大增益使曝光时间控制在100ms以内，同时采用芯片制冷工艺，提升相机感光质量；

• 使用1600万像素的相机，并且可以做到每隔1s采集一副图像；‍

市面上大多通过套用模板的方式提取测量点信息，这对于待测产品的摆放位置要求过高，DI-5000系列仪器可以做到准确抓取产品发光面区域，并计算得到用户需要的点位置，这同时也减少了误差产生的可能。

DI-1600系列产品外观

 

目前我司主要通过两种测量方法来描述残影现象。

方法一‍使用左黑右白的1*2棋盘格画面，主要用于测量屏幕中心区域的残影消散程度；‍

方法二‍使用黑白相间的8*8棋盘格画面，将屏幕分成64个区域，可测量这个64个区域的残影消散程度；‍

这两种方式基本可以满足用户的测量需求，对于屏幕不同区域的残影消散程度加以衡量。