TOPCON SR-5100
——500万像素全像素光谱成像,170亿cd/m²高量程
——500万点分光成像测量光源及物体特性(光谱特性,分光透过率特性,分光反射率特性)
产品概要
2D分光辐射计SR-5100为具有点测定的分光辐射计同等性能,且可以面测量的2D分光辐射计。
2D分光辐射计SR-5100以非破坏・非接触的方式,测量光源的光谱特性,材料分光穿透率及物体的分光反射率特性,拥有高分辨率(500万像素)高量程(170亿cd/m2) 透过每1nm的分光特性测量,在客户产品质量维持上做出贡献。
在极速开发中的Micro/Mini LED显示屏及相关材料,物质质感,肌肤护理,纤维染织物,景观等广泛业种用途上使用。
特点
■ 非破坏-非接触方式,高精度500万点,分光测量光源光谱特性及材料分光穿透率特性、物体分光反射率特性。
■ 测量数据可以伪色彩、灰阶及RGB图像显示, 来观测被测物的均匀度。
■ 透过分光成像可对物体固有的光谱分析,可运用于物体反射光的评价及模拟,并且可测量评价人眼及滤片式2维亮度计不易观测的特性。
- 500万像素(2448x2048)的高亮度量程(170亿cd/m²)分光成像测量。
- 不同光源及年龄层别人眼感度的分光成像模拟分析。
- 搭配显微镜可以高分辨率测量评价微小面的光谱分布(显微分光成像)。
- 单点式分光辐射计相同性能的成像分光辐射计。
- 对可追溯性光源校正,达成高精度的亮度及色度精度保证。
- 分光及XYZ虑片模式可供选择, 为兼具精度及速度, 对应暗态到亮态量程的机型。
- 付赠标配软件及SDK。
- 测定功能:亮度, 色度(xy, u'√') , 相关色温度, 主波长, 刺激純度, 峰波长, 辐射亮度, 分光辐射度, L*a*b*, Hue-Chroma,RGB
分光模式 | ||||
每1nm的分光测量方式的高精度测量 | 绝对值测量 | ![]() | ||
测量波长间距可选择1nm,5nm,10nm间隔。 | 拥有日本国家标准连结追朔体系,可高精度测量亮度及色度。 | |||
低亮度0.5cd/m²的测量 | 范围指定测量 | |||
能正确测量低达低亮度0.5cd/m²的亮度·色度,分光光谱。 | 可指定测量区域,节省测量时间显 | |||
XYZ模式 | ||||
高达超低亮度0.005cd/m²的高精度测量 | 高速测量 | 高色度精度 | ||
采用本公司光学XYZ滤片,能精确测定量0.005~10万的亮度及色度。 | 约12秒的亮度及色度测量。 200cd/m²时 | 新开发的XYZ光学滤片, 高达±0.008以内的高色度精度,实现接近人眼感度。 *A光源+本公司标准彩色玻璃 | ||
共通功能 | ||||
搭载500万像素CMOS | 可设定任意形状测量区域 | 同期测量 | ||
可测定2448x2048像素。 | 可自由设定多角形,矩形,圆形等区域灵活对应各 种仪器显示屏,造型显示屏等。 | 则定OLED, LED等闪烁光源时, 输入同期信号后可稳定测量。 | ||
频率设定 | 自动取点测量 | 分层测量功能 | ||
藉由频率设定,可稳定测量脉冲光源。 *4~20000Hz | 可设定参数自动抓取格子状排列的被测点。 | 适合用于广亮度范围宽的被侧物。 | ||
对角补正功能 | 物体色模式/L*a*b*, Hue-Chroma | 外部控制效率化 | ||
对拍摄显示出来歪斜图像进行修正。能在同一程序菜单内进行机动对角补正。 | 从白板数据与实测数据,将物体色数值经过软件演算·原示 | 可对应及保存本公司标准SDK, MATLAB*等可读取的HDF 5格式。 | ||
主要用途
■ LCD、OLED、QD、激光、Micro;LED及关联材料等的亮度・色度、分光光谱的评价
■ 汽车仪表盘及内外装照明的发光分布特性、分光光谱的评价
■ LED照明、OLED照明的发光部的亮度・色度均匀性、分光光谱均匀性的评价
■ 室内及室外的景物的分光光谱的评价
■ 纤维染织物的分光光谱的评价
■ 肌肤斑与暗沉等肌肤护理关联的评价
■ 吸收、反射、穿透特性的分析
■ 光学膜及涂层的不均匀、干涉条纹的测量
■ 病理组织的染色状态的些微差异的解析及量化评价测量(SR-5100HM+显微镜)