OLED 微显光学测试
OLED 微显光学测试
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光谱仪式OLED微显模组+器件寿命测量系统
测量系统可兼容测量多片OLED微显模组和器件的寿命衰减测试。软件通过CCD自动拍照定位, 通过分光辐射亮度计读取每一工位的亮度,色度等数据。测试过程中软件实时备份测试数据,且支持随时导出测试报表。
※ 模组产品通过信号机进行点亮测试,测试过程中可以设置对应的老画画面,测试点位和测试画面可以自由设定;
※ 半成品通过弗士达自主研发的多通道电源供电模块进行供电点亮,测试时读取每一工位的电压电流并记录。
系统组成 |
1、全封闭暗室(三轴运动控制系统)
2、分光辐射亮度计
3、视觉定位系统
4、微显模组常温治具
-器件常温治具
-器件高温治具(独立温控,室温~100℃,精度:±1℃)
5、红外温度测量系统(实时监测产品温度,精度≤±5℃)
6、模组通道信号板、微显通讯接口
7、数字原表(量程:1mV±0.05%全程,1pA±0.05%)
8、UPS不间断电源(断电时数据保存; UPS工作时间>15min)
9、OLED寿命测试软件
10、工业计算机
系统特点 |
分光辐射亮度计:用于光学参数测试,包括亮度,色度、色温、发光光谱等。
对位CCD:选用500万分辨率工业CCD, 在测试前拍照自动识别发光面位置及中心点, 仪器直接移动到对应位置测试。
红外测温仪:通过红外测量模组及晶圆表面的温度,每次测试完亮度后会读取相同位置的温度。
点屏测试机:
①6通道0-10V,0-300mA输出;2通道-10~0V,0-100mA输出
②2组12V电源输入
③10通道电压测量,精度1mV±0.05%;10通道电流测量,精度1pA±0.05%
④2个微显通讯接口
⑤1台测试机点2片微显。
样品点灯方式:每个样品有14个pad, 每个pad均为直流供电。
点灯模式:恒流或恒压或脉冲电流电压测试。脉冲电流或电压占空比调节范围1-99%。
软件功能 |
模组产品测试
1、可分组测试:不同组可以设置不同的测试项目和测试参数,每个组都可以独立开始和停止;
2、寿命测试时间区间和间隔设置:可以设置三段时间区间和测试间隔;
3、寿命测试结束条件判定:亮度衰减至初始值的百分之多少时停止测量,或按用户设定的总时间进行测量
4、OLED放置位置自动识别:软件上选择测试的工位, 软年控制工业视觉对位CCD自动扫描测试工位的(OLED发光区尺寸和中心点位置;
5、寿命预估功能:软件自带寿命预估公式,根据实时测得的数据自动计算预估寿命时间;
6、测量数据的实时保存和恢复:测试过程中软件实时保存,电脑异常关机或软件异常退出,重启后仍可恢复加载之前的数据,继续测量;
7、软件可设置一组老化画面, 在等待测试的时间段, OLED循环显示老化画面;
8、支持条码扫描,及将数据上传至服务器(需客户提供上传协议)。
半成品测试
1、每个器件产品可分别设置电源的输出方式,亮度采样时间间隔,结束测量条件等。每个通道均可独立开始和停止测量。
2、在测试开始, 结束和测试过程中, 可以设置一个或者多个工位进行IVL测试。IVL测试的配置和测试次数[均可以由软件设定。
3、测量的数据包括:已测量时间、当前亮度比值、当前电压电流值及预估寿命时间等。每个OLED的数据自动测量记录并绘制亮度衰减曲线,
即使出现测量异常状况,重启电脑或软件时,仍可自动载入异常发生前的数据自动继续测量。
软件界面 |
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