（二）残影应该如何定量描述？如何解决短期残影测量的技术难点？
残影分为短期残影和长期残影，
短期残影现象往往在几十秒内就会消失，
然而长期残影现象可以持续
几个小时甚至几天，
在一些罕见的情况下，
残影现象还可以是永久存在的，
我们往往把这种现象称为烧屏（或灼屏）。
短期残影和长期残影的测量步骤基本一致，然而相较于长期残影，短期残影在技术上存在很多难点，其主要原因是短期残影消散速度快，测量软件需要迅速做出反应。
短期残影测量其难点主要为：
控制PG与软件同步切换画面；
测量仪器需拥有较高的亮度分辨率；
相机曝光时间足够短；
软件采集图像时间速度足够快；
每次的测量点位置信息判断足够准确。
残影测量具体步骤有哪些？
残影测量步骤通常分为三个部分：即预热、老化和测量。
预热：
点亮一副纯色画面，保持T0时间。预热的目的是使待测屏幕处于亮度稳定的状态，因为屏幕在初始点亮时，亮度存在波动，此步骤可避免由于屏幕亮度波动造成测量结果存在误差。
老化：
点亮由黑白图像构成的棋盘格画面T1时间。点亮棋盘格画面的目的是使待测屏幕产生残影现象，屏幕在显示黑白棋盘格画面时最容易产生残影现象。
测量：
切换到测量灰阶图像，保持T2时间。在测量灰阶下每隔一定时间连续采集图像，并通过计算分析每幅图像下残影现象发生的程度。
短期残影测量的技术难点要如何解决？
针对短期残影测量项目的技术难点，弗士达DI-1600系列仪器给出了答案。
在APK与PC端利用WiFi通信，控制同步切换图像，在0.1s内完成由棋盘格画面切换至待测画面，具有速度快、稳定性好等特点；
使用14bit的CCD，具有良好的亮度分辨率，例如：待测画面亮度为10cd/m²，相机可以分辨至0.0024cd/㎡的亮度差异；
通过调大增益使曝光时间控制在100ms以内，同时采用芯片制冷工艺，提升相机感光质量；
使用1600万像素的相机，并且可以做到每隔1s采集一副图像；
市面上大多通过套用模板的方式提取测量点信息，这对于待测产品的摆放位置要求过高，DI-1600系列仪器可以做到准确抓取产品发光面区域，并计算得到用户需要的点位置，这同时也减少了误差产生的可能。
DI-1600系列产品外观
有哪些方法来进行残影测量？
目前我司主要通过两种测量方法来描述残影现象。
方法一：使用左黑右白的1*2棋盘格画面，主要用于测量屏幕中心区域的残影消散程度；
方法二：使用黑白相间的8*8棋盘格画面，将屏幕分成64个区域，可测量这个64个区域的残影消散程度；
这两种方式基本可以满足用户的测量需求，对于屏幕不同区域的残影消散程度加以衡量。
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