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环境温湿度控制下的OLED器件寿命测试系统
高温环境下硅光电式的OLED器件寿命测试FS-MP-HT
常温环境下硅光电式的OLED器件寿命测试FS-MP系列
高低温下OLED模组+器件IVL测试系统
常温下光谱仪扫描式OLED器件寿命测试系统
高低温环境下OLED 器件光谱仪式寿命测试系统
该系统集成高低温箱，支持常温及-40℃~100℃下 OLED 模组+OLED器件的自动视角与IVL测试。
1.通过左侧旋转装置产品满足常温光学测试、自动视角测试。
2.在右侧搭载高低温箱进行温度控制，进行高低温光学测试。高低温箱要求满足-40℃~100℃
详情请致电0512-62564212咨询。
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