环境温湿度控制下的OLED器件寿命测试系统

根据用户不同温湿度环境测试需求，可增加高温箱、高低温箱、恒温恒湿箱等，对器件的寿命测试环境进行控制。

其温度控制范围、湿度控制范围和多层腔式均可根据客户的需求订制。

系统组成

弗士达公司的硅光电寿命测试机台系统采用模块化设计，可以根据用户需求灵活配置测试系统。会在亮度测量开始前，先测量每个硅光电二极管的暗电流噪声并保存。选配恒温恒湿箱可实现对测|试环境温度和湿度的控制，控制器件老化的环境。每次硅光电电流的测量结果都会自动减去暗电流噪声，以硅光电电流净值来计算亮度。

系统配置

1.中央控制柜，内含

-电气柜

-恒压恒流源输出/测量模块

-Keithley 3706A(选配)

-不间断电源UPS

-OLED TEG治具(定制)

2.环境试验箱(选配)

3.工业计算机

4.OLED器件寿命测量软件

标准恒温恒湿箱参数

温度范围： -40～100 ℃ （标准型，其它温度范围可订制）

温度均匀度：±2.0℃

温度波动度： ± 0.5℃

温度精度：1 ℃

升温速度： 1.0～3.0℃/min

降温速率： 0.7～1.2℃/min

湿度范围：30%～98%RH （标准型，其它湿度范围可订制）

湿度波动度：±1.5％R.H

湿度偏差：±2.5％R.H