高温环境下硅光电式的OLED器件寿命测试FS-MP-HT

系统概述

高温测试系统分为chamber温控或底板加热温控。chamber加热温度范围：室温-40℃~100℃；底板加热温度：室温~100℃。

软件功能

(1)测量模式：恒压、恒流、方波电压、方波电流

(2)软件所有通道可独立配置电流电压测试条件，互不影响。

-每个发光点可以独立设置电压或电流等参数，独立开始和停止测量。支持用户在测试过程中，增加或更换其中几片产品。

-测量时间控制：有3个时间段设计，每个通道每个时间段可以分别设置测量时间和间隔等参数。

-测量前预处理功能：有4段预处理，每段预处理都可以设置温度、电流、电压和时间等参数，正常测量前先以预处理条件进行老化，然后再进入正常寿命测试程序。

(3)软件所有通道可实时检查详细测量数据及图表。

-数据包含样品信息、测量时间、已测时长、光感电流、亮度剩余比例、电压、电流、预估寿命温度、湿度、亮度等。

-多通道曲线图：支持选择多通道电压、电流、亮度衰减、寿命时长等数据，在一张图表里显示曲线，便于比较筛选。

-数据实时存储，异常恢复后可找回数据并继续测试(中断的时间不累积，能自动减除)。

-数据实时处理和记录， 自动生成数据图表和测试报告， Datalog及Eventlog实时记录。

软件界面